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紫外可視近赤外分光光度計
（I2CNER機器） Shimadzu UV-3600 Spectrophotometer
この装置では、いわゆる吸収スペクトルの測定が可能です。特に、他の紫外可視赤外分光光度計と比べ、近赤外領域（900-3300 nm）における測定が可能であるという強みがあります。近赤外領域におけるノイズが従来のものと比べて小さいという特徴もあります。
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紫外可視近赤外分光光度計
Shimadzu UV-3100PC Spectrophotometer
この装置では、いわゆる吸収スペクトルの測定が可能です。特に、他の紫外可視赤外分光光度計と比べ、近赤外領域（900-3200 nm）における測定が可能であるという強みがあります。機器の詳細
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紫外可視分光光度計
（I2CNER機器） Shimadzu UV-2600 Spectrophotometer
この装置では、吸収スペクトルの測定が可能です。付属のバリデーションソフトによるデータの精度確認を簡単に行うことが可能です。
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紫外可視分光光度計
Shimadzu UV-2450SIM
この装置では、吸収スペクトルの測定が可能です。機器の詳細
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フォトダイオードアレー分光光度計
Shimadzu MultiSpec 1500
この装置では、紫外可視吸収スペクトルの測定が可能です。特に紫外可視領域における高速スペクトル測定、多波長同時モニターができるという点において優れています。機器の詳細
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フーリエ変換赤外分光光度計
PerkinElmer Spectrum One
Diamond ATR Crystal この装置では、KBr錠剤の調製処理を行うことなく、固体の化合物の赤外吸収スペクトルを測定することが可能です。機器の詳細
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蛍光分光光度計
Shimadzu RF-5300
この装置では、錯体などの定常状態における発光を測定することが可能です。機器の詳細
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発光減衰曲線測定装置
USHO KEN-1520 N2 Laser
Horiba H-20-VIS Monochromator Iwatsu DS-4262 Digital Oscilloscope Photomultiplier Tube R928/C3830 この装置では、発光減衰曲線を測定することが可能です。化合物の発光寿命の決定等に使用できます。機器の詳細
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ピコ秒蛍光寿命測定装置
（I2CNER機器） HORIBA FluoroCube 3000USKU
この装置では、ピコ秒オーダーの発光減衰の測定が可能です。
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ストップトフローラピッドスキャン分光測定装置
（I2CNER機器） UNISOKU RSP-2000-03LKS
２つの溶液を高速で混ぜ合わせ、その後の試料の化学状態の変化を吸収スペクトルにより観測するすることができます。これにより、電子移動反応等の分析を行うことができます。
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時間分解分光測定装置
UNISOKU TSP-1000
この装置では、過渡吸収スペクトルを測定することが可能です。過渡吸収スペクトルを測定することにより、光励起状態の電子状態や反応の情報を得ることができます。機器の詳細
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電気化学測定装置
BAS ALS Model 750C
この装置では、サイクリックボルタンメトリーの測定やバルク電解といった電気化学測定を行うことが可能です。
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電気化学測定装置
BAS ALS Model 1100C
この装置では、サイクリックボルタンメトリーの測定やバルク電解といった電気化学測定を行うことが可能です。
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TiO2フィルム印刷機器
NEWLONG HP-320
この装置では、FTO等の電極表面に一定の厚みを持ったTiO2フィルムを作製することが可能です。
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電気化学測定装置
BAS ALS Model 602DKM
この装置では、サイクリックボルタンメトリーの測定といった電気化学測定を行うことが可能です。
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溶液用電気伝導度測定計
TOA CM-20S
この装置では溶液の電気伝導度測定を行うことが可能です。この測定により、溶液中に溶けている化合物の対イオンとの会合度や電荷を決定することができます。
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マイクロ天秤
SHIMADZU AEM-5200
この装置では、マイクログラムオーダーの試料秤量が可能です。測定溶液の調製などに用いることができます。
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ナノ粒子解析装置
OTSUKA ELSZ-2PS
この装置では、溶液中に存在するナノ粒子のサイズやゼータポテンシャルを測定することができます。（I2CNER機器）
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タワーサーバ
DELL PowerEdge T620
この装置では、分子軌道計算を行うことができます。
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電子スピン共鳴装置
（化学部門共通機器） JEOL JES-FA200
この装置では、常磁性金属イオンにおける金属イオンの配位環境、錯体の配位子部位に局在化したスピンに関する情報が取得可能です。機器の詳細
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全自動水素・酸素ガス定量システム（１号機）
Shimadzu GC-8A
Molecular Sieve 5A Column 300W Xe Lamp (USHIO UXL series) Mass Flow Controller STEC SEC-E40/PAC-D2 Digital Multimeter Dos/V Controller この装置では、サンプル溶液中にアルゴンを連続的にフローすることで、光照射によって発生した水素ガスおよび酸素ガスの定量を一定間隔ごとに自動で行うことができます。一度の測定で水素ガスと酸素ガスの同時定量も可能となっております。機器の詳細/English version(PDF)
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全自動水素・酸素ガス定量システム（２号機）
（I2CNER機器） Shimadzu GC-8A
Molecular Sieve 5A Column 300W Xe Lamp (USHIO UXL series) Mass Flow Controller STEC SEC-E40/PAC-D2 Digital Multimeter Dos/V Controller この装置では、サンプル溶液中にアルゴンを連続的にフローすることで、光照射によって発生した水素ガスおよび酸素ガスの定量を一定間隔ごとに自動で行うことができます。一度の測定で水素ガスと酸素ガスの同時定量も可能となっております。一号機ではバルブの切り替えを空気によって行っていましたが、二号機以降では、電気で切り替わるように改良がなされています。
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全自動水素・酸素ガス定量システム（３号機）
Shimadzu GC-8A
Molecular Sieve 5A Column 300W Xe Lamp (USHIO UXL series) Mass Flow Controller STEC SEC-E40/PAC-D2 Digital Multimeter Dos/V Controller この装置では、サンプル溶液中にアルゴンを連続的にフローすることで、光照射によって発生した水素ガスおよび酸素ガスの定量を一定間隔ごとに自動で行うことができます。一度の測定で水素ガスと酸素ガスの同時定量も可能となっております。一号機ではバルブの切り替えを空気によって行っていましたが、二号機以降では、電気で切り替わるように改良がなされています。
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全自動水素・酸素ガス定量システム（４号機）
Shimadzu GC-8A
Molecular Sieve 5A Column 300W Xe Lamp (USHIO UXL series) Mass Flow Controller STEC SEC-E40/PAC-D2 Digital Multimeter Dos/V Controller この装置では、サンプル溶液中にアルゴンを連続的にフローすることで、光照射によって発生した水素ガスおよび酸素ガスの定量を一定間隔ごとに自動で行うことができます。一度の測定で水素ガスと酸素ガスの同時定量も可能となっております。一号機ではバルブの切り替えを空気によって行っていましたが、二号機以降では、電気で切り替わるように改良がなされています。
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二酸化炭素ガス定量システム
Shimadzu GC-14A
Molecular Sieve 5A Column 300W Xe Lamp (USHIO UXL series) Mass Flow Controller STEC SEC-E40/PAC-D2 Digital Multimeter Dos/V Controller この装置では、光照射中に発生した二酸化炭素ガスの定量を行うことができます。
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溶存酸素計
YSI Model 5300
この装置では溶液中に含まれる酸素を定量することができます。
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ガスクロマトグラフ質量分析計
Hewlett Packard 5973
この装置は、気体化合物の定性・定量分析を行うことができます。GC部分によって化合物を分離し、MS部分においてその分離した化合物の同定を行うことが可能です。
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ガスクロマトグラフ
Shimadzu GC-2014
この装置では、気体の定量分析を行うことができます。
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CCD検出器付単結晶X線構造解析装置
Bruker SMART APEX II ULTRA CCD-detector Diffractometer
この装置では、単結晶X線構造解析を行うことが可能です。これにより、結晶中に含まれる化合物の構造決定を行うことができます。機器の詳細
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X線電子分光分析装置
（化学部門共通機器） Shimadzu ESCA-3400
この装置では、XPSを測定することが可能です。これにより、試料中に含まれる原子の状態を明らかにすることができます。機器の詳細
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エネルギー分散型蛍光X線分析装置
（化学部門共通機器） Shimadzu Rayny EDX-720
この装置では、EDXを測定することが可能です。これにより試料中に含まれる元素の比率を大まかに決定することができます。
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走査型プローブ顕微鏡
（化学部門共通機器） Agilent 5100 Atomic Force Microscope(AFM)
この装置では、原子間力顕微鏡と走査型トンネル顕微鏡により表面状態を測定することが可能です。これにより固体サンプル表面の粗さ等を観測することができます。
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絶対PL量子収率測定装置
（化学部門共通機器） HAMAMATSU C9920-02
この装置では、発光体の絶対量子収率を測定することが可能です。
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ESI-TOF型質量分析計
（先導物質化学研究所 箱崎地区共通機器） JEOL JMS-T100CS
この装置では、化合物の質量分析を行うことができます。溶液に存在する錯体や有機化合物の質量分析を行うことが可能です。
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MALDI-TOF型質量分析計
（先導物質化学研究所 箱崎地区共通機器） BLUKER autoflexII
この装置では、化合物の質量分析を行うことができます。特に高分子量の化合物についても測定できるという点で優れています。
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核磁気共鳴装置
（先導物質化学研究所 箱崎地区共通機器） BLUKER AVANCE III 600
この装置ではNMRを測定することが可能です。
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核磁気共鳴装置
（低温センター 箱崎地区共通機器） JEOL ECA-600
この装置ではNMRを測定することが可能です。
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核磁気共鳴装置
（低温センター 箱崎地区共通機器） JEOL ECS-400
この装置ではNMRを測定することが可能です。
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